4月8日，全国电子测量仪器标准化技术委员会（以下简称仪器标委会）在北京组织召开了《电子测量仪器评价指标体系》（计划号:2024-1499T-SJ）《半导体器件动态特性参数综合测试仪》（计划号:2024-1847T-SJ）等2项电子行业标准研讨会。仪器标委会副主任委员荀京京、副秘书长曹策，中国电子技术标准化研究院、山东省计量科学研究院、浙江省质量科学研究院、中国船舶集团有限公司第七〇九研究所、中国计量大学、青岛艾诺仪器有限公司、普源精电科技股份有限公司、北京康斯特仪表科技股份有限公司、北京航天测控技术有限公司、石家庄数英仪器有限公司、北京新凯来技术有限公司等十余家产学研用有关单位代表，以及部分仪器标委会委员参加了会议。
中国电子技术标准化研究院作为2项电子行业标准的牵头单位，向与会人员介绍了标准的制定背景，会上重点围绕2项标准草案中关于电子测量仪器评价指标架构、指标要求以及评价过程，半导体器件参数综合测试技术要求等技术内容进行了深入研讨，会后牵头单位将根据会上讨论的内容进一步完善标准草案并编制征求意见稿。
《电子测量仪器评价指标体系》以补齐我国仪器仪表行业基础共性要求为目标，综合《电子测量仪器通用规范》等国家标准要求，以及用户在使用国内与国外电子测量仪器过程中反馈的具有共性的产品质量特性差距为出发点，通过标准引导国内电子测量仪器向着测量结果准确、产品质量可靠、具有国际竞争力迈进。
《半导体器件动态特性参数综合测试仪》以我国半导体制造领域电学特性测量设备产品规范需求为导向，旨在为仪器制造商、用户单位、第三方测试机构在半导体器件动态特性参数综合测试仪设计、测试、验收、使用等环节提供参考。
